1.一種微流體裝置，包括：在其間限定出通道的第一基體和第二基體，所述通道包括間隔開的測試區，其中，所述的測試區沿著通道的主軸以距離D7被間隔開，每個測試區包括探針化合物，該探針化合物配置成參與對于靶分析物的分析，所述基體的至少一個是柔性的，從而在所述第一基體的內表面和第二基體的內表面之間的距離D6在對應于數量為N個測試區的部位被順序性地減小，其中N≤3。2.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述的距離D6能夠沿著通道D8的長度上順序性的減少，其中，D8可以是間隔開測試區的D7的長度距離的5倍，或者，D8可以是間隔開測試區的D7的長度距離的3倍，或，D8可以是間隔開測試區的D7的長度距離的2倍，或者，D8與間隔開測試區的D7的長度距離相等。3.根據權利要求1或2所述的裝置，其中，D7足夠大，使得測試區沿通道的主軸線a1的寬度同時接觸多個測試區。4.根據權利要求1或2所述的裝置，其中N≤2或N＝1。5.根據權利要求3所述的裝置，所述的主軸線a1的測試區的寬度大于測試區沿其軸線a2的長度。6.根據權利要求5所述的裝置，沿著主軸線a1的測試區的長度是200微米，35微米，2000微米，1000微米或者750微米；或者，測試區的寬度W為25微米，50微米，最多500微米，250微米或者150微米。7.根據權利要求5所述的裝置，其中測試區域的長度為500微米和寬度為100微米。8.根據權利要求1所述的裝置，其中，通道包括參考區域和參考區域包括熒光介質。9.根據權利要求1所述的裝置，其中，該裝置進一步包括提供關于測試區的空間性質的信息參考樣式。10.一種檢測樣品中靶分析物的分析方法，包括：測試區域與流體樣本接觸，所述的測試區沿著通道的主軸以距離D7被間隔開，其中，通道被微流體裝置的第一基體的內表 面和第二基體的內表面所限定，所述基體的至少一個是柔性的，其中，每個測試區包括探針化合物，該探針化合物配置成參與對于靶分析物的分析，和基體的至少一個是柔性的從而在所述第一基體的內表面和第二基體的內表面之間的距離D6在對應于數量為N個測試區的部位被順序性地減小，其中N≤3；在對應于所述測試區的部位減小所述第一基體的內表面和第二基體的內表面之間的距離；和在所述對應的部位處的所述內表面之間的距離減小的多個測試區的每一個處，以光學方式確定相互作用的存在，在每個測試區處的所述相互作用指示所述樣品中靶分析物的存在。11.根據權利要求10所述的分析方法，還包括：對于所述第一和第二基體的所述內表面之間的距離減小的多個部位的每一個，在所述測試區的以光學方式確定步驟之后，隨后增加所述內表面之間的距離。12.據權利要求10所述的分析方法，其中所述減小距離的步驟包括在對應于所述多個測試區的多個部位處順序地減小所述第一和第二基體的內表面之間的距離，并且所述以光學方式確定步驟包括隨后檢測對應部位處的內表面之間距離減小的多個測試區的每一個處的相互作用；其中，所述檢測包括同時檢測來自不超過N個測試區的光，其中N≤3。13.據權利要求10所述的分析方法，其中，光學檢測包括把微流體轉移到光學測試儀器的光學測試區域來執行所述的光學檢測。14.據權利要求10所述的分析方法，其中，減少距離包括把微粒體轉移到一個膜上，該膜可以施加壓力給分析裝置。15.據權利要求10所述的分析方法，其中，所述的微流體裝置為權利要求1-9所述的裝置。
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