一種系統(tǒng)管理總線測(cè)試裝置，包括一擴(kuò)展卡接口、第一及第二電容，擴(kuò)展卡接口包括第一至第三金手指引腳，所述第一至第三金手指引腳分別對(duì)應(yīng)擴(kuò)展卡插口中與系統(tǒng)管理總線的時(shí)鐘信號(hào)線、數(shù)據(jù)信號(hào)線及接地線相連的引腳，第一電容的兩端分別與第一及第三金手指引腳電性相連，還分別向外延伸兩個(gè)用于測(cè)試所述系統(tǒng)管理總線的時(shí)鐘信號(hào)線上數(shù)據(jù)的測(cè)試探針，第二電容的兩端分別與第二及第三金手指引腳電性相連，分別向外延伸兩個(gè)用于測(cè)試所述系統(tǒng)管理總線的數(shù)據(jù)信號(hào)線上數(shù)據(jù)的測(cè)試探針。所述系統(tǒng)管理總線測(cè)試裝置可簡(jiǎn)單、方便的測(cè)試系統(tǒng)管理總線。

1.一種系統(tǒng)管理總線測(cè)試裝置，用于測(cè)試一待測(cè)電腦主機(jī)板上的系統(tǒng)管
理總線，所述系統(tǒng)管理總線測(cè)試裝置包括一板體，所述板體包括一可插接至
所述待測(cè)電腦主機(jī)板上第一擴(kuò)展卡插口的第一擴(kuò)展卡接口，所述第一擴(kuò)展卡
接口包括第一至第三金手指引腳，所述第一至第三金手指引腳分別對(duì)應(yīng)所述
第一擴(kuò)展卡插口中與所述系統(tǒng)管理總線的時(shí)鐘信號(hào)線、數(shù)據(jù)信號(hào)線及接地線
相連的引腳，所述板體上還設(shè)有第一及第二電容，所述第一電容的兩端分別
與所述第一及第三金手指引腳電性相連，所述第一電容的兩端還分別向外延
伸兩個(gè)用于測(cè)試所述系統(tǒng)管理總線的時(shí)鐘信號(hào)線上數(shù)據(jù)的測(cè)試探針，所述第
二電容的兩端分別與所述第二及第三金手指引腳電性相連，所述第二電容的
兩端還分別向外延伸兩個(gè)用于測(cè)試所述系統(tǒng)管理總線的數(shù)據(jù)信號(hào)線上數(shù)據(jù)的
測(cè)試探針。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)管理總線測(cè)試裝置，其特征在于：所述第一擴(kuò)
展卡接口為一PCI接口或一PCIE接口。
3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)管理總線測(cè)試裝置，其特征在于：所述板體還
包括一可插接至所述待測(cè)電腦主機(jī)板上第二擴(kuò)展卡插口的第二擴(kuò)展卡接口，
所述第二擴(kuò)展卡接口包括第四至第七金手指引腳，所述第四至第七金手指引
腳分別對(duì)應(yīng)所述擴(kuò)展卡插口中與所述系統(tǒng)管理總線的接地線、時(shí)鐘信號(hào)線、
數(shù)據(jù)信號(hào)線及接地線相連的引腳，所述板體上還設(shè)有第三及第四電容，所述
第三電容的兩端分別與所述第五及第四金手指引腳電性相連，所述第三電容
的兩端還分別向外延伸兩個(gè)用于測(cè)試所述系統(tǒng)管理總線的時(shí)鐘信號(hào)線上數(shù)據(jù)
的測(cè)試探針，所述第四電容的兩端分別與所述第六及第七金手指引腳電性相
連，所述第四電容的兩端還分別向外延伸兩個(gè)用于測(cè)試所述系統(tǒng)管理總線的
數(shù)據(jù)信號(hào)線上數(shù)據(jù)的測(cè)試探針。
4.如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)管理總線測(cè)試裝置，其特征在于：所述第一擴(kuò)
展卡接口為一PCI接口，所述第二擴(kuò)展卡接口為一PCIE接口。