1.一種用于測試一受測試器件的系統，包括：一電路板，所述電路板具有一信號接觸結構及一防護接觸結構，所述電路板被配置為一板片，所述板片具有一頂部側、一底部側以及通過所述頂部側和底部側的一開口；多個探針卡，每個探針卡包括一導線導引器、與該導線導引器連接的一探針塊、由所述導線導引器及所述探針塊支撐的多個探針導線，所述探針導線通過所述導線導引器以及所述探針塊被定位，所述探針導線包括延伸通過所述探針塊的一探針尖端，所述探針尖端形成一陣列以探測所述受測試器件，所述探針導線包括自所述導線導引器暴露的一信號傳輸部分以及一防護部分，所述信號傳輸部分以及所述防護部分形成一接觸結構，并通過所述陣列被安置于每個探針卡的一側上；以及一托架機構，所述托架機構被配置用于將所述多個探針卡定位到所述電路板上，并通過一氣動操作以及一自動化控制自所述多個探針卡的第一探針卡切換到所述多個探針卡的另一個探針卡；其中，任何所述多個探針卡的所述探針塊可插入到所述電路板的所述開口中以允許所述陣列探測所述受測試器件，所述接觸結構可與所述電路板上的所述信號接觸結構以及防護接觸結構接觸，所述接觸結構與所述信號接觸結構和所述防護接觸結構的接觸允許信號通過所述探針導線以及所述電路板而被傳送。2.如權利要求1所述的系統，其特征在于，每個探針卡包括一安置于每個探針卡另一側上的固位體部件，其中，所述固位體部件包括一插座，所述插座被配置用于接納一球形架座。3.如權利要求2所述的系統，其特征在于，進一步包括：一固持器，所述固持器具有多個探針卡站，所述探針卡站具有一連接器結構，以連接到任何所述多個探針卡的所述固位體部件以及斷開自任何所述多個探針卡的所述固位體部件的連接，并允許所述多個探針卡與所述電路板和所述受測試器件兩者接觸，其中，所述固持器包括至少五個位置，任何所述多個探針卡可安裝于所述至少五個位置上。4.如權利要求3所述的系統，其特征在于，所述固持器為具有五個面的一五邊形輪，其中，每個面可用于安裝所述多個探針卡的一個探針卡，所述五邊形輪被配置以執行所述探針卡的旋轉轉位。5.如權利要求3所述的系統，其特征在于，所述固持器被配置用于執行所述探針卡的平移轉位。6.如權利要求3所述的系統，其特征在于，進一步包括用于自所述固持器裝載及移除所述探針卡的一裝載工具。7.如權利要求3所述的系統，其特征在于，進一步包括一封裝，以用于容納所述電路板、固持器及托架機構以作為一單一單元。8.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述托架機構包括一框架及轉位組件。9.一種探測受測試器件的方法，包括：使用一托架機構，將多個探針卡的一第一探針卡定位到一電路板以及一受測試器件上，所述電路板具有一信號接觸結構及一防護接觸結構，每個探針卡包括多個探針導線，所述探針導線包括延伸通過探針塊的一探針尖端，所述探針尖端形成一陣列以探測所述受測試器件，所述探針導線包括自所述導線導引器暴露的一信號傳輸部分以及一防護部分，所述信號傳輸部分以及所述防護部分形成一接觸結構，并通過所述陣列被安置于每個探針卡的一第一側上；使用一托架機構，以用于將所述多個探針卡的所述第一探針卡的所述接觸結構與所述信號接觸結構以及所述防護接觸結構在所述電路板上對準接觸，以及用于將所述陣列與所述受測試器件接觸；使用所述陣列探測所述受測試器件；以及通過所述多個探針卡的所述第一探針卡與所述電路板的接觸以及所述多個探針卡的所述第一探針卡與所述受測試器件的接觸，將信號通過所述陣列傳輸到一測試設備，從而允許信號通過所述探針導線及電路板被傳送；其中，通過一氣動操作以及一自動化控制執行定位所述多個探針卡的所述第一探針卡，以及對準接觸所述多個探針卡的所述第一探針卡的步驟中的一個或多個步驟。10.如權利要求9所述的方法，其特征在于，進一步包括：使用一替代探針卡替換所述多個探針卡的一個探針卡。11.如權利要求9所述的方法，其特征在于，進一步包括：旋轉所述托架機構以切換到至少四個其他探針卡中的一個。
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