本發(fā)明提供一種光學(xué)試驗(yàn)裝置，無論各芯片所對應(yīng)的探針位置，能夠使光量的計(jì)測條件均等，而使光量的測量值均等。其中，作為在發(fā)光器件例如LED芯片等的芯片(22)的光學(xué)特性計(jì)測中、使多個(gè)同時(shí)進(jìn)行探針接觸來計(jì)測光量時(shí)的光學(xué)性修正單元，具備如下：用于供給電源的接觸探針(21)；在接觸探針群的兩側(cè)，以在其以外遮擋擴(kuò)散光為目的的用于取得同等計(jì)測條件的虛擬探針(21a)。

1.一種光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，具有：
在與計(jì)測對象的多個(gè)發(fā)光器件進(jìn)行電接觸而計(jì)測光學(xué)特性時(shí)，用于向
該多個(gè)發(fā)光器件供給電源的多個(gè)接觸單元；
在該多個(gè)接觸單元的排列的兩側(cè)分別設(shè)置、且與該接觸單元同樣的用
于遮擋來自該發(fā)光器件的擴(kuò)散光而使光量計(jì)測條件均等的虛擬接觸單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
由固定有所述多個(gè)接觸單元及其兩側(cè)的所述虛擬接觸單元的卡片單
元構(gòu)成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述虛擬接觸單元，通過遮蔽來自計(jì)測對象的計(jì)測區(qū)域的所述發(fā)光器
件的排列的兩側(cè)末端位置的該發(fā)光器件的擴(kuò)散光，進(jìn)行在所述多個(gè)發(fā)光器
件間對所述光學(xué)特性的計(jì)測值進(jìn)行校正的物理性光學(xué)校正。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述接觸單元和所述虛擬接觸單元，按照來自其下方的發(fā)光器件的擴(kuò)
散光的遮光寬度或遮光面積同等的方式構(gòu)成。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述接觸單元和所述虛擬接觸單元的截面形狀被構(gòu)成為同等尺寸的
同等形狀。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述接觸單元和所述虛擬接觸單元被構(gòu)成為截面同等直徑。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
以與所述多個(gè)接觸單元的配置間隔同等的間隔，在該多個(gè)接觸單元的
兩側(cè)配置所述虛擬接觸單元。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述接觸單元和所述虛擬接觸單元，將距所述多個(gè)發(fā)光器件的發(fā)光高
度位置的高度配置成同等的高度。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述接觸單元的材質(zhì)與所述虛擬接觸單元的材質(zhì)由同等的材質(zhì)構(gòu)成。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述接觸單元的表面反射特性與所述虛擬接觸單元的表面反射特性
被構(gòu)成為同等的表面反射特性。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
在所述多個(gè)接觸單元的排列的兩側(cè)所分別設(shè)置的所述虛擬接觸單元
的需要數(shù)量，根據(jù)來自所述發(fā)光器件的擴(kuò)散光的擴(kuò)散特性決定。
12.根據(jù)權(quán)利要求1或11所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
在所述多個(gè)接觸單元的排列的兩側(cè)所分別設(shè)置的所述虛擬接觸單元
的需要數(shù)量，根據(jù)從所述發(fā)光器件的發(fā)光高度位置至所述接觸單元的高度
位置的距離決定。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述虛擬接觸單元的前端形狀，與所述接觸單元的前端形狀相比，被
縮短至該虛擬接觸單元的前端不會(huì)與所述發(fā)光器件的電極片接觸。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述接觸單元是接觸探針，所述虛擬接觸單元是虛擬探針。
15.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述多個(gè)接觸單元是多個(gè)接觸探針，所述虛擬接觸單元是虛擬探針，
所述卡片單元由固定有該多個(gè)接觸探針及其兩側(cè)的該虛擬探針的探針卡
構(gòu)成。
16.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
使在所述多個(gè)接觸單元之中的、其排列的中央部的接觸單元的表面反
射特性被調(diào)整得比其兩側(cè)的該接觸單元的表面反射特性高。
17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
使在所述多個(gè)接觸單元之中的、其排列的中央部的接觸單元的遮光程
度被調(diào)整得比其兩側(cè)的該接觸單元的遮光程度小。
18.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述多個(gè)接觸單元及其兩側(cè)的所述虛擬接觸單元，分別朝向所述發(fā)光
器件的兩電極片而從該發(fā)光器件的兩側(cè)、相對于該多個(gè)發(fā)光器件的排列方
向在俯視下正交或具有規(guī)定角度地排列。