1.一種光學測定裝置，其特征在于，該光學測定裝置具有：
測定探針，其對樣本照射照明光，并且接收被所述樣本反射和/或散射的所述照
明光的返回光；
檢測部，其檢測所述測定探針接收到的所述返回光；
記錄部，其記錄第1檢測強度與第2檢測強度的比值，所述第1檢測強度是通過
所述測定探針對具有與所述樣本相同的折射率的第1介質照射照明光時檢測到的、是
在不包含來自所述第1介質的返回光的狀態下檢測到的光的強度，所述第2檢測強度
是通過所述測定探針對第2介質照射照明光時檢測到的、是在不包含來自所述第2
介質的返回光的狀態下檢測到的光的強度；以及
運算部，其根據第3檢測強度與所述比值之積，運算在對來自所述樣本的所述返
回光進行校正時使用的背景光的背景強度，所述第3檢測強度是通過所述測定探針對
第3介質照射照明光時檢測到的、是在不包含來自所述第3介質的返回光的狀態下檢
測到的光的強度，其中，所述第3介質是與所述第2介質相同的物質。
2.根據權利要求1所述的光學測定裝置，其特征在于，
在所述測定探針對所述樣本照射所述照明光時，所述運算部從所述檢測部檢測到
的來自所述樣本的所述返回光的檢測強度中減去所述背景強度。
3.根據權利要求2所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述檢測部具有分光器，
所述第1檢測強度、所述第2檢測強度和所述第3檢測強度是針對由所述分光器
分光后的各波長檢測到的值。
4.根據權利要求1所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述第1介質是水。
5.根據權利要求1所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述第2介質是空氣。
6.根據權利要求1所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述測定探針相對于該光學測定裝置的主體部拆裝自如。
7.根據權利要求1所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述樣本是活體組織。
8.根據權利要求1所述的光學測定裝置，其特征在于，
所述樣本的折射率與所述第1介質的折射率之差的絕對值為0.1以下。
9.根據權利要求1～8中的任意一項所述的光學測定裝置，其特征在于，
針對在內表面施加有吸收光的光吸收部件的容器中收納的所述第1介質測定所
述第1檢測強度，
針對所述容器中收納的所述第2介質測定所述第2檢測強度。
10.一種校正方法，其由具有測定探針并進行樣本的光學測定的光學測定裝置執
行，所述測定探針對所述樣本照射照明光并且接收被所述樣本反射和/或散射的所述
照明光的返回光，該校正方法的特征在于，該校正方法包括以下步驟：
運算步驟，根據第1檢測強度和第2檢測強度的比值與第3檢測強度之積，運算
在對來自所述樣本的所述返回光進行校正時使用的背景光的背景強度，所述第1檢測
強度是通過所述測定探針對具有與所述樣本相同的折射率的第1介質照射照明光時
檢測到的、是在不包含來自所述第1介質的返回光的狀態下檢測到的光的強度，所述
第2檢測強度是通過所述測定探針對第2介質照射照明光時檢測到的、是在不包含來
自所述第2介質的返回光的狀態下檢測到的光的強度，所述第3檢測強度是通過所述
測定探針對第3介質照射照明光時檢測到的、是在不包含來自所述第3介質的返回光
的狀態下檢測到的光的強度，其中，所述第3介質是與所述第2介質相同的物質；以
及
減法步驟，從來自所述樣本的所述返回光的檢測強度中減去所述背景強度。
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