1.一種可逆檢測次氯酸根和硫化氫的方法,包括下述步驟:①將已知次氯酸根濃度標準樣品和發光探針分子溶于緩沖溶液中,測定體系發光強度,建立次氯酸根濃度與發光探針分子發光強度關系,其中,所述緩沖溶液為磷酸、硼酸或Tris-HCl緩沖溶液,緩沖溶液的pH=7.4;②將已知硫化氫濃度標準樣品加入步驟①所得被氧化的發光探針分子緩沖溶液中,測定體系發光強度,建立硫化氫濃度與發光探針分子發光強度關系;③將待測次氯酸根樣品和發光探針分子溶于緩沖溶液中,測定體系發光強度,根據步驟①所得次氯酸根濃度與體系發光強度關系,確定待測次氯酸根樣品中次氯酸根的濃度;④將待測硫化氫樣品加入步驟③所得溶液中,測定體系發光強度,根據步驟②所得硫化氫濃度與體系發光強度關系,確定待測硫化氫樣品中硫化氫的濃度,其中,所述發光探針分子為具有通式I結構的金屬配合物:(L
1L
2)M-L
3Y
3??I式I中,M為Ru或Os;Y為鹵素離子、ClO
4-、BF
4-、PF
6-或OTs
-;L
1和L
2各自獨立地選自如下配體:
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其中,R
1和R
2各自獨立地選自H、C
1-18烷基、CHO、COOH、NH
2、C
1-6烷基氨基、OH、SH、C
1-6烷氧基、C
1-6酰胺基、C
1-6烷基取代或未取代的芐基、鹵素或C
1-6鹵代烷基,L
3選自如下配體:
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其中,R
3為H、CH
3或R
4;R
4選自具有通式PTZ
1、PTZ
2或PTZ
3的基團,式中:n=1~18,m=0~18
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。2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于:所述L
1和L
2各自獨立地選自如下配體:
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其中,R
1和R
2各自獨立地選自H和C
1-6烷基。3.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于:所述L
3選自如下配體:
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其中,R
3為H或CH
3;R
4選自具有通式PTZ
2或PTZ
3的基團,式中,m=0,n=2~6。4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于:所述發光探針分子選自下述金屬配合物中的一種:
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5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于:所述發光探針分子發光強度按下述方法確定:對溶液進行發光光譜掃描,激發光波長為450nm,發射波長掃描范圍為470nm~700nm。6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于:所述發光探針分子在緩沖溶液中的濃度為1×10
-5mol/L。