1.近紅外二區熒光量子點探針在鎘離子含量檢測中的應用,其特征在于,所述近紅外
二區熒光量子點探針的制備方法包括如下步驟:
(1)制備硫化銀量子點:配制銀鹽的水溶液,向所述水溶液中滴加氨水直至產生的沉淀
完全消失,然后加入正十二烷硫醇,于150-250℃水熱反應1-3h,即得;
(2)改性處理:向水熱反應所得反應液中加入巰基乙酸,超聲處理,所得溶液即為所述
近紅外二區熒光量子點探針。
2.根據權利要求1所述的應用,其特征在于:步驟(1)中,所述水溶液中銀離子的濃度為
0.1-0.5mol/L;和/或,所述銀鹽中銀離子和正十二烷硫醇的摩爾比為:1:(1~10)。
3.根據權利要求1或2所述的應用,其特征在于:所述巰基乙酸與正十二烷硫醇的摩爾
比為(1~10):1。
4.根據權利要求1所述的應用,其特征在于:所述超聲的頻率為30-50kHz,功率為100-
200W。
5.根據權利要求4所述的應用,其特征在于:所述超聲的時間為1-3h。
6.根據權利要求1所述的應用,其特征在于:還包括過濾步驟(2)所得反應液,透析所得
濾液以除去未反應的小分子的步驟。
7.根據權利要求6所述的應用,其特征在于:所述過濾采用孔徑200-250nm的濾膜;和/
或,所述透析采用MWCO截留分子量為80-120Da的透析袋。
8.一種利用近紅外二區熒光量子點探針檢測鎘離子含量的方法,其特征在于,包括如
下步驟:
(1)配制溶液:配制不同濃度的鎘離子水溶液,備用;
(2)繪制標準工作曲線:測試探針的熒光強度I0,以及分別向所述探針中加入不同濃度
的鎘離子水溶液后所得混合溶液的熒光強度I,以鎘離子濃度為橫坐標,相對熒光強度I/I0
為縱坐標繪制標準工作曲線;
(3)檢測未知樣品:測試將所述未知樣品加入到探針中所得混合溶液的熒光強度,并計
算得到未知樣品相對于探針的相對熒光強度,將所述相對熒光強度帶入標準工作曲線中,
計算得到未知樣品中的鎘離子濃度;
所述近紅外二區熒光量子點探針的制備方法包括如下步驟:
(1)制備硫化銀量子點:配制銀鹽的水溶液,向所述水溶液中滴加氨水直至產生的沉淀
完全消失,然后加入正十二烷硫醇,于150-250℃水熱反應1-3h,即得;
(2)改性處理:向水熱反應所得反應液中加入巰基乙酸,超聲處理,所得溶液即為所述
近紅外二區熒光量子點探針。
9.根據權利要求8所述的方法,其特征在于,所述混合溶液中硫化銀量子點的濃度為
0.1-10mM。
10.根據權利要求8或9所述的方法,其特征在于:測試熒光強度時,設定儀器的激發波
波長為460-500nm,檢測發射波波長為1000-1300nm。
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