1.一種射頻連接器，其特征在于，包括：
內導體，介質層和外導體；所述介質層設置于所述內導體與所述外導體
之間；
所述內導體的第一端設有探針端，所述探針端凸出所述介質層，用于連
接被測射頻單板上的阻焊開窗后的測試點；所述外導體的第一端設有第一接
地端和第二接地端，用于卡入所述被測射頻單板上的卡接結構，以將所述射
頻連接器與所述被測射頻單板固定；所述外導體的第二端和所述內導體的第
二端構成測試連接端，用于與測試儀的測試端口連接；
其中，所述外導體的第一接地端和第二接地端為弧形或月牙形。
2.根據權利要求1所述的射頻連接器，其特征在于，所述探針端的直徑
與所述被測射頻單板的信號線的寬度相同。
3.根據權利要求1或2所述的射頻連接器，其特征在于，所述介質層的
外直徑是所述內導體的直徑的2-4倍。
4.根據權利要求1或2所述的射頻連接器，其特征在于，所述射頻連接
器的特征阻抗為50歐姆或75歐姆。
5.一種被測射頻單板，使用權利要求1-4任一項所述的射頻連接器進行
測試，其特征在于，所述被測射頻單板包括：
信號線和與所述信號線對應的接地區域；
所述信號線上設有阻焊開窗后的測試點，所述測試點用于連接所述射頻
連接器上的探針端；
所述接地區域設置有阻焊開窗后的卡接結構，所述卡接結構用于連接所
述射頻連接器上的第一接地端和第二接地端連接，以固定所述被測射頻單板
和所述射頻連接器；
其中，所述射頻連接器上的第一接地端和第二接地端為弧形或月牙形。
6.一種校準器件，用于對權利要求1-4任一項所述的射頻連接器進行校
準，以使與所述射頻連接器相連的測試儀獲得短路開路負載直通SOLT校準
算法的相關參數，其特征在于，所述校準器件包括：
測試線和所述測試線對應的接地區域；所述測試線包括開路線，短路線，
信號線或直通線；
所述測試線上設置有至少一個阻焊開窗后的測試點，所述測試點用于連
接所述射頻連接器上的探針端；
所述接地區域設置有至少一個阻焊開窗后的卡接結構，所述卡接結構用
于連接所述射頻連接器上的第一接地端和第二接地端，以固定所述射頻連接
器和所述校準器件；
其中，所述射頻連接器上的第一接地端和第二接地端為弧形或月牙形。
7.根據權利要求6所述的校準器件，其特征在于，
所述測試線為開路線，所述開路線的一端設置有所述測試點；所述校準
器件具體用于對所述射頻連接器進行校準，以使與所述射頻連接器相連的測
試儀獲得SOLT校準算法的開路相關參數；所述測試儀處于開路校準模式。
8.根據權利要求6所述的校準器件，其特征在于，
所述測試線為短路線，所述短路線的一端設置有所述測試點；所述校準
器件具體用于對所述射頻連接器進行校準，以使與所述射頻連接器相連的測
試儀獲得SOLT校準算法的短路相關參數；所述測試儀處于短路校準模式。
9.根據權利要求6所述的校準器件，其特征在于，
所述測試線為信號線，所述信號線的一端設置有所述測試點，所述信號
線的另一端設有匹配負載；所述校準器件具體用于對所述射頻連接器進行校
準，以使與所述射頻連接器相連的測試儀獲得SOLT校準算法的負載相關參
數；所述測試儀處于負載校準模式。
10.根據權利要求6所述的校準器件，其特征在于，所述測試線為直通
線，所述直通線的一端設置有第一測試點，所述直通線的另一端設置有第二
測試點，所述第一測試點用于連接第一射頻連接器上的探針端，所述第二測
試點用于連接第二射頻連接器上的探針端；
所述接地區域設置有第一卡接結構和第二卡接結構，所述第一卡接結構
與所述第一射頻連接器上的第一接地端和第二接地端連接，所述第二卡接結
構與所述第二射頻連接器上的第一接地端和第二接地端連接；所述校準器件
具體用于對所述射頻連接器進行校準，以使與所述射頻連接器相連的測試儀
獲得SOLT校準算法的直通相關參數；所述測試儀處于直通校準模式。
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