1.一種射頻連接器,其特征在于,包括:
內導體,介質層和外導體;所述介質層設置于所述內導體與所述外導體
之間;
所述內導體的第一端設有探針端,所述探針端凸出所述介質層,用于連
接被測射頻單板上的阻焊開窗后的測試點;所述外導體的第一端設有第一接
地端和第二接地端,用于卡入所述被測射頻單板上的卡接結構,以將所述射
頻連接器與所述被測射頻單板固定;所述外導體的第二端和所述內導體的第
二端構成測試連接端,用于與測試儀的測試端口連接;
其中,所述外導體的第一接地端和第二接地端為弧形或月牙形。
2.根據權利要求1所述的射頻連接器,其特征在于,所述探針端的直徑
與所述被測射頻單板的信號線的寬度相同。
3.根據權利要求1或2所述的射頻連接器,其特征在于,所述介質層的
外直徑是所述內導體的直徑的2-4倍。
4.根據權利要求1或2所述的射頻連接器,其特征在于,所述射頻連接
器的特征阻抗為50歐姆或75歐姆。
5.一種被測射頻單板,使用權利要求1-4任一項所述的射頻連接器進行
測試,其特征在于,所述被測射頻單板包括:
信號線和與所述信號線對應的接地區域;
所述信號線上設有阻焊開窗后的測試點,所述測試點用于連接所述射頻
連接器上的探針端;
所述接地區域設置有阻焊開窗后的卡接結構,所述卡接結構用于連接所
述射頻連接器上的第一接地端和第二接地端連接,以固定所述被測射頻單板
和所述射頻連接器;
其中,所述射頻連接器上的第一接地端和第二接地端為弧形或月牙形。
6.一種校準器件,用于對權利要求1-4任一項所述的射頻連接器進行校
準,以使與所述射頻連接器相連的測試儀獲得短路開路負載直通SOLT校準
算法的相關參數,其特征在于,所述校準器件包括:
測試線和所述測試線對應的接地區域;所述測試線包括開路線,短路線,
信號線或直通線;
所述測試線上設置有至少一個阻焊開窗后的測試點,所述測試點用于連
接所述射頻連接器上的探針端;
所述接地區域設置有至少一個阻焊開窗后的卡接結構,所述卡接結構用
于連接所述射頻連接器上的第一接地端和第二接地端,以固定所述射頻連接
器和所述校準器件;
其中,所述射頻連接器上的第一接地端和第二接地端為弧形或月牙形。
7.根據權利要求6所述的校準器件,其特征在于,
所述測試線為開路線,所述開路線的一端設置有所述測試點;所述校準
器件具體用于對所述射頻連接器進行校準,以使與所述射頻連接器相連的測
試儀獲得SOLT校準算法的開路相關參數;所述測試儀處于開路校準模式。
8.根據權利要求6所述的校準器件,其特征在于,
所述測試線為短路線,所述短路線的一端設置有所述測試點;所述校準
器件具體用于對所述射頻連接器進行校準,以使與所述射頻連接器相連的測
試儀獲得SOLT校準算法的短路相關參數;所述測試儀處于短路校準模式。
9.根據權利要求6所述的校準器件,其特征在于,
所述測試線為信號線,所述信號線的一端設置有所述測試點,所述信號
線的另一端設有匹配負載;所述校準器件具體用于對所述射頻連接器進行校
準,以使與所述射頻連接器相連的測試儀獲得SOLT校準算法的負載相關參
數;所述測試儀處于負載校準模式。
10.根據權利要求6所述的校準器件,其特征在于,所述測試線為直通
線,所述直通線的一端設置有第一測試點,所述直通線的另一端設置有第二
測試點,所述第一測試點用于連接第一射頻連接器上的探針端,所述第二測
試點用于連接第二射頻連接器上的探針端;
所述接地區域設置有第一卡接結構和第二卡接結構,所述第一卡接結構
與所述第一射頻連接器上的第一接地端和第二接地端連接,所述第二卡接結
構與所述第二射頻連接器上的第一接地端和第二接地端連接;所述校準器件
具體用于對所述射頻連接器進行校準,以使與所述射頻連接器相連的測試儀
獲得SOLT校準算法的直通相關參數;所述測試儀處于直通校準模式。
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