1.一種用于倒置顯微鏡的樣本容器保持機構，所述倒置顯微鏡具有光學物鏡和掃描探針顯微鏡(SPM)頭，所述掃描探針顯微鏡頭包括配置用于執行所述樣本容器中樣本的掃描的掃描探針顯微鏡探針和控制系統，所述掃描探針顯微鏡頭使用所述控制系統可操作地產生所述掃描探針顯微鏡探針的受控運動，所述受控運動在操作帶寬內跟蹤所述樣本的表面，所述樣本容器保持機構包括：用于支撐所述樣本容器的平臺，所述平臺提供表面，在所述掃描探針顯微鏡頭操作期間所述樣本容器定位在所述表面上；在所述平臺中形成的孔，所述孔的尺寸設置成為所述倒置顯微鏡的所述物鏡提供從下方接近所述樣本容器的通道；以及至少一個真空區域，所述至少一個真空區域具有包括所述樣本容器的底面和所述平臺的所述表面的邊界，所述至少一個真空區域中的每一個與真空發生器氣壓地連接，以通過所述真空發生器的操作促進所述真空區域內的工作真空；其中所述至少一個真空區域包括定位為鄰近所述孔的至少一部分，以在所述掃描探針顯微鏡頭操作產生所述運動期間，所述工作真空使得所述樣本容器的所述底面與所述操作帶寬內由所述掃描探針顯微鏡探針的所述受控運動所產生的任何聲學激勵隔離。2.根據權利要求1所述的樣本容器保持機構，其中所述至少一個真空區域包括定位為鄰近所述孔的內密封件和定位為相對遠離所述孔的遠端密封件，所述內密封件和所述遠端密封件各自被設置用于保持與所述樣本容器的底面的緊密接觸以封閉所述真空區域。3.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述至少一個真空區域是單個真空區域，所述單個真空區域在與所述表面平行的參考平面中具有環形橫截面。4.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述至少一個真空區域中的每一個包括真空通道，所述真空通道在與所述表面平行的參考平面中具有環形橫截面。5.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述內密封件和所述遠端密封件中的至少一個包括O形圈。6.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述內密封件和所述遠端密封件中的至少一個包括在所述平臺上形成的加工表面。7.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述遠端密封件包括單個連續密封件。8.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述內密封件位于與穿過所述孔的中心并且沿著所述物鏡的光軸定向的參考中心軸線相距固定徑向距離處。9.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述內密封件位于與穿過所述孔的中心并且沿著所述物鏡的光軸定向的參考中心軸線相距最大徑向距離處，所述最大徑向距離不大于所述孔的半徑的一半。10.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述內密封件位于與穿過所述孔的中心并且沿著所述物鏡的光軸定向的參考中心軸線相距最大徑向距離處，所述最大徑向距離不大于所述孔的半徑的20％。11.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述內密封件位于與穿過所述孔的中心并且沿著所述物鏡的光軸定向的參考中心軸線相距最大徑向距離處，所述最大徑向距離不大于所述孔的半徑的10％。12.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述內密封件相對于穿過所述孔的中心并且沿著所述物鏡的光軸定向的參考中心軸線與所述孔的半徑對齊。13.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述遠端密封件位于與穿過所述孔的中心并且沿著所述物鏡的光軸定向的參考中心軸線相距固定徑向距離處。14.根據權利要求2所述的樣本容器保持機構，其中所述遠端密封件位于與穿過所述孔的中心并且沿著所述物鏡的光軸定向的參考中心軸線相距最小徑向距離處，所述最小徑向距離是所述樣本容器的半徑的至少90％。15.根據權利要求1所述的樣本容器保持機構，其中所述平臺被設置成使所述樣本容器底面包括非真空區域邊界的至少一個部分，所述至少一個部分中的每一個在面積上小于所述孔的面積。16.根據權利要求1所述的樣本容器保持機構，其中所述至少一個真空區域包括在所述平臺中形成的多個真空通道，所述多個真空通道包括定位為鄰近所述孔的第一組真空通道。17.根據權利要求16所述的樣本容器保持機構，其中所述至少一個真空區域進一步包括第二組真空通道，所述第二組真空通道在相鄰的真空通道和所述樣本容器的周邊之間具有最大間距，所述最大間距小于所述孔的直徑。18.根據權利要求1所述的樣本容器保持機構，其中所述至少一個真空區域包括多個真空通道，所述多個真空通道在所述平臺中形成并且彼此隔開比所述孔的直徑小的距離。19.根據權利要求1所述的樣本容器保持機構，其中在所述掃描探針顯微鏡頭操作期間，所述工作真空的建立使所述樣本容器底面的共振頻率高于所述掃描探針顯微鏡探針的所述受控運動的所述操作帶寬。20.根據權利要求1所述的樣本容器保持機構，其中所述樣本容器是培養皿。21.根據權利要求1所述的樣本容器保持機構，其中所述倒置顯微鏡的所述物鏡具有大于0.2的數值孔徑。22.根據權利要求1所述的樣本容器保持機構，其中所述倒置顯微鏡的所述物鏡具有大于0.5的數值孔徑。23.一種倒置顯微鏡，包括：光學物鏡；掃描探針顯微鏡(SPM)頭，所述掃描探針顯微鏡頭包括掃描探針顯微鏡探針，所述掃描探針顯微鏡探針配置用于執行對樣本容器中的樣本的掃描，所述掃描探針顯微鏡探針在工作頻率范圍內可操作地產生具有振蕩分量的運動；樣本容器保持機構，其包括：用于支撐樣本容器的平臺，所述平臺提供表面，在所述掃描探針顯微鏡頭操作期間所述樣本容器位于所述表面上；在所述平臺中形成的孔，所述孔的尺寸被設置成為所述倒置顯微鏡的所述物鏡提供從下方接近所述樣本容器的通道；以及至少一個真空區域，所述至少一個真空區域具有包括所述樣本容器的底面和所述平臺的所述表面的邊界，所述至少一個真空區域中的每一個與真空發生器氣壓地連接，以通過所述真空發生器的操作促進所述真空區域內的工作真空；其中所述至少一個真空區域包括定位為鄰近所述孔的至少一部分，以在所述掃描探針顯微鏡頭操作產生所述運動期間，所述工作真空使得所述樣本容器的所述底面與在所述操作帶寬內由所述掃描探針顯微鏡探針的受控運動產生的任何聲學激勵隔離。
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