電磁場(chǎng)測(cè)量裝置(10)，具備：第一探針(21)以及第二探針(22)，為了測(cè)量電場(chǎng)，而被設(shè)置在空間中；參考信號(hào)發(fā)生器(31)，生成參考信號(hào)；第一乘法器(32)，將在第一探針(21)獲得的信號(hào)與參考信號(hào)相乘；第二乘法器(34)，將從第一乘法器(32)輸出的信號(hào)與在第二探針(22)獲得的信號(hào)相乘；以及同步檢波器(35)，從第二乘法器(34)輸出的信號(hào)中，提取與參考信號(hào)同步的信號(hào)成分。

1.一種電磁場(chǎng)測(cè)量方法，包括：設(shè)置步驟，為了測(cè)量電場(chǎng)或者磁場(chǎng)，在空間設(shè)置第一探針以及第二探針；第一乘法步驟，將在所述第一探針獲得的信號(hào)與參考信號(hào)發(fā)生器生成的參考信號(hào)相乘；第二乘法步驟，將所述第一乘法步驟獲得的信號(hào)與在所述第二探針獲得的信號(hào)相乘；以及同步檢波步驟，從所述第二乘法步驟獲得的信號(hào)中，提取與所述參考信號(hào)發(fā)生器生成的參考信號(hào)同步的信號(hào)成分。2.如權(quán)利要求1所述的電磁場(chǎng)測(cè)量方法，在所述設(shè)置步驟中，以所述第二探針固定在所述空間的狀態(tài)下，使所述第一探針移動(dòng)，依次設(shè)置到所述空間中的多個(gè)測(cè)量點(diǎn)，在所述設(shè)置步驟中所述第一探針每設(shè)置在所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)中的一個(gè)測(cè)量點(diǎn)時(shí)，均執(zhí)行所述第一乘法步驟、所述第二乘法步驟以及所述同步檢波步驟。3.如權(quán)利要求1所述的電磁場(chǎng)測(cè)量方法，在所述設(shè)置步驟中，以所述第一探針與所述第二探針的間隔固定的狀態(tài)下，使所述第一探針以及所述第二探針一起移動(dòng)，依次設(shè)置到所述空間中的多個(gè)測(cè)量點(diǎn)，在所述設(shè)置步驟中所述第一探針以及所述第二探針每設(shè)置在所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)中的一個(gè)測(cè)量點(diǎn)時(shí)，均執(zhí)行所述第一乘法步驟、所述第二乘法步驟以及所述同步檢波步驟。4.如權(quán)利要求3所述的電磁場(chǎng)測(cè)量方法，在所述設(shè)置步驟中，以當(dāng)前的測(cè)量點(diǎn)的所述第一探針以及所述第二探針的一方的位置與下一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的所述第一探針以及所述第二探針的另一方的位置一致的方式，使所述第一探針以及所述第二探針一起移動(dòng)。5.如權(quán)利要求3所述的電磁場(chǎng)測(cè)量方法，在所述設(shè)置步驟中，以所述第一探針以及所述第二探針的一方依次位于將規(guī)定時(shí)刻的所述第一探針與所述第二探針的間隔進(jìn)行分割而得到的多個(gè)位置的每一個(gè)位置的方式，使所述第一探針以及所述第二探針一起移動(dòng)。6.如權(quán)利要求3所述的電磁場(chǎng)測(cè)量方法，所述電磁場(chǎng)測(cè)量方法還包括偏移相位算出步驟，將在所述第一探針獲得的信號(hào)與所述參考信號(hào)相乘，將獲得的信號(hào)與在所述第一探針獲得的信號(hào)相乘，從獲得的信號(hào)中提取與所述參考信號(hào)同步的信號(hào)成分，從而算出所述參考信號(hào)的偏移相位。7.如權(quán)利要求3所述的電磁場(chǎng)測(cè)量方法，所述電磁場(chǎng)測(cè)量方法還包括偏移相位算出步驟，針對(duì)所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的一個(gè)測(cè)量點(diǎn)，在所述設(shè)置步驟中的所述第一探針以及所述第二探針的位置調(diào)換的狀態(tài)下，執(zhí)行所述第一乘法步驟、所述第二乘法步驟以及所述同步檢波步驟，并且將調(diào)換前在所述同步檢波步驟提取的信號(hào)成分的相位與所述調(diào)換后在所述同步檢波步驟提取的信號(hào)成分的相位相加，從而算出所述參考信號(hào)的偏移相位。8.一種電磁場(chǎng)測(cè)量裝置，具備：第一探針以及第二探針，為了測(cè)量電場(chǎng)或者磁場(chǎng)，而被設(shè)置在空間中；參考信號(hào)發(fā)生器，生成參考信號(hào)；第一乘法器，將在所述第一探針獲得的信號(hào)與所述參考信號(hào)相乘；第二乘法器，將從所述第一乘法器輸出的信號(hào)與在所述第二探針獲得的信號(hào)相乘；以及同步檢波器，從所述第二乘法器輸出的信號(hào)中，提取與所述參考信號(hào)同步的信號(hào)成分。9.如權(quán)利要求8所述的電磁場(chǎng)測(cè)量裝置，所述電磁場(chǎng)測(cè)量裝置還具備：第一頻率轉(zhuǎn)換器，將從所述第一探針輸出的信號(hào)的頻率轉(zhuǎn)換為比該第一探針輸出的信號(hào)的頻率低的中頻；以及第二頻率轉(zhuǎn)換器，將從所述第二探針輸出的信號(hào)的頻率轉(zhuǎn)換為所述中頻，所述第一乘法器，將從所述第一頻率轉(zhuǎn)換器輸出的信號(hào)與所述參考信號(hào)相乘，所述第二乘法器，將從所述第一乘法器輸出的信號(hào)與從所述第二頻率轉(zhuǎn)換器輸出的信號(hào)相乘。10.如權(quán)利要求8所述的電磁場(chǎng)測(cè)量裝置，所述電磁場(chǎng)測(cè)量裝置還具備濾波器，從所述第一乘法器輸出的信號(hào)中，選擇具有如下頻率的信號(hào)成分，該頻率是輸入到所述第一乘法器的信號(hào)的頻率與所述參考信號(hào)的頻率的和或差的頻率，所述第二乘法器，將從所述濾波器輸出的信號(hào)與從所述第二探針輸出的信號(hào)相乘。11.如權(quán)利要求9所述的電磁場(chǎng)測(cè)量裝置，所述第一探針以及所述第二探針，輸出與檢測(cè)出的電場(chǎng)對(duì)應(yīng)的光信號(hào)，所述第一頻率轉(zhuǎn)換器，將從所述第一探針輸出的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為比該光信號(hào)的頻率低的中頻的電信號(hào)，所述第二頻率轉(zhuǎn)換器，將從所述第二探針輸出的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為所述中頻的電信號(hào)，所述第一乘法器，將從所述第一頻率轉(zhuǎn)換器輸出的電信號(hào)與所述參考信號(hào)相乘，所述第二乘法器，將從所述第一乘法器輸出的信號(hào)與從所述第二頻率轉(zhuǎn)換器輸出的電信號(hào)相乘。12.一種電磁場(chǎng)測(cè)量裝置，具備：第一探針以及第二探針，為了測(cè)量電場(chǎng)或者磁場(chǎng)，而被設(shè)置在空間中；第一模數(shù)轉(zhuǎn)換器，將在所述第一探針獲得的信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字值；第二模數(shù)轉(zhuǎn)換器，將在所述第二探針獲得的信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字值；以及計(jì)算機(jī)裝置，對(duì)從所述第一模數(shù)轉(zhuǎn)換器以及所述第二模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸出的信號(hào)進(jìn)行處理，所述計(jì)算機(jī)裝置執(zhí)行如下步驟：第一乘法步驟，將從所述第一模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸出的信號(hào)與參考信號(hào)相乘；第二乘法步驟，將在所述第一乘法步驟獲得的信號(hào)與從所述第二模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸出的信號(hào)相乘；以及同步檢波步驟，從在所述第二乘法步驟獲得的信號(hào)中，提取與所述參考信號(hào)同步的信號(hào)成分。13.一種計(jì)算機(jī)能夠讀取的記錄介質(zhì)，該記錄介質(zhì)中記錄了程序，該程序包括權(quán)利要求12所述的計(jì)算機(jī)裝置執(zhí)行的步驟。14.一種相位成像裝置，測(cè)量電磁波針對(duì)對(duì)象物透射或反射時(shí)的所述電磁波的相位移動(dòng)量并進(jìn)行圖像化，所述相位成像裝置具備：電磁波源，射出電磁波；光學(xué)裝置，將從所述電磁波源射出的電磁波，分成第一電磁波以及第二電磁波；機(jī)構(gòu)部，以在所述光學(xué)裝置分成的所述第一電磁波以及所述第二電磁波中，只有所述第一電磁波針對(duì)所述對(duì)象物的二維狀的多個(gè)測(cè)量點(diǎn)依次掃描并射入的方式，改變所述對(duì)象物與所述第一電磁波的相對(duì)的位置關(guān)系；權(quán)利要求8至12的任一項(xiàng)所述的電磁場(chǎng)測(cè)量裝置，針對(duì)所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)，測(cè)量針對(duì)所述對(duì)象物透射或反射的所述第一電磁波與針對(duì)所述對(duì)象物沒(méi)有透射或反射的所述第二電磁波的相位差；以及圖像化裝置，將所述電磁場(chǎng)測(cè)量裝置測(cè)量的相位差與所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)建立對(duì)應(yīng)地進(jìn)行圖像化，所述電磁場(chǎng)測(cè)量裝置，利用該電磁場(chǎng)測(cè)量裝置具備的第一探針以及第二探針，分別檢測(cè)所述第一電磁波以及所述第二電磁波，所述圖像化裝置，將所述電磁場(chǎng)測(cè)量裝置具備的同步檢波器提取的信號(hào)成分的相位，作為所述相位差進(jìn)行圖像化。