當增大質量掃描的掃描速度時，某離子入射到四極質量過濾器到從四極質量過濾器出射的期間的施加電壓的變化量變大，由于離子的通過條件改變而離子量減少、檢測靈敏度下降。本發明為了避免上述現象而在進行質量掃描時，分別決定各電壓U、V的值以使掃描速度越大對桿電極施加的直流電壓U與高頻電壓的振幅V的電壓比U/V越小。由此，在基于馬提厄方程式的穩定區域圖中，表示質量掃描時的施加電壓變化的線L的斜率變緩，特別是在高質量區域中，通過四極質量過濾器的離子的數量增加。

1.一種四極型質量分析裝置，具備：離子源，其將試樣分
子離子化；四極質量過濾器，其選擇性地使在該離子源中產生
的離子中的具有特定質量的離子通過；以及檢測器，其檢測通
過了該四極質量過濾器的離子，該四極型質量分析裝置的特征
在于，還具備：
a)四極驅動單元，其對構成上述四極質量過濾器的各電極
施加將直流電壓與高頻電壓相加得到的電壓；以及
b)控制單元，在以使通過上述四極質量過濾器的離子的質
量依次改變的方式進行質量掃描時，上述控制單元控制上述四
極驅動單元使得上述直流電壓以及上述高頻電壓的振幅與質量
相應地依次改變，并且使該直流電壓與該高頻電壓的振幅之比
與掃描速度相應地改變，
其中，對于相對大的掃描速度，上述控制單元使直流電壓
U與高頻電壓的振幅V之比U/V相對減小。
2.一種四極型質量分析裝置，具備：離子源，其將試樣分
子離子化；四極質量過濾器，其選擇性地使在該離子源中產生
的離子中的具有特定質量的離子通過；以及檢測器，其檢測通
過了該四極質量過濾器的離子，該四極型質量分析裝置的特征
在于，還具備：
a)四極驅動單元，其對構成上述四極質量過濾器的各電極
施加將直流電壓與高頻電壓相加得到的電壓；以及
b)控制單元，在以使通過上述四極質量過濾器的離子的質
量依次改變的方式進行質量掃描時，上述控制單元控制上述四
極驅動單元使得上述直流電壓以及上述高頻電壓的振幅與質量
相應地依次改變，并且使該直流電壓的偏移與掃描速度相應地
改變，
其中，對于相對大的掃描速度，上述控制單元使直流電壓
的偏移相對減小。
3.根據權利要求1或2所述的四極型質量分析裝置，其特征
在于，
使加速電壓與掃描速度相應地改變，該加速電壓決定被導
入到上述四極質量過濾器的離子的動能。
4.根據權利要求3所述的四極型質量分析裝置，其特征在
于，
在上述離子源與上述四極質量過濾器之間具備用于輸送離
子的離子輸送光學系統，上述加速電壓是上述離子輸送光學系
統與上述四極質量過濾器之間的直流電位差。
5.一種四極型質量分析裝置，具備：離子源，其將試樣分
子離子化；四極質量過濾器，其選擇性地使在該離子源中產生
的離子中的具有特定質量的離子通過；以及檢測器，其檢測通
過了該四極質量過濾器的離子，該四極型質量分析裝置的特征
在于，還具備：
a)四極驅動單元，其對構成上述四極質量過濾器的各電極
施加將直流電壓與高頻電壓相加得到的電壓；以及
b)控制單元，在以使通過上述四極質量過濾器的離子的質
量依次改變的方式進行質量掃描時，上述控制單元控制上述四
極驅動單元使得上述直流電壓以及上述高頻電壓的振幅與質量
相應地依次改變，同時使該直流電壓與該高頻電壓的振幅之比
也與質量相應地改變。
6.根據權利要求5所述的四極型質量分析裝置，其特征在
于，
對于相對大的質量，上述控制單元使直流電壓U與高頻電
壓的振幅V之比U/V相對減小。
7.一種四極型質量分析裝置，具備：離子源，其將試樣分
子離子化；四極質量過濾器，其選擇性地使在該離子源中產生
的離子中的具有特定質量的離子通過；以及檢測器，其檢測通
過了該四極質量過濾器的離子，該四極型質量分析裝置的特征
在于，還具備：
a)四極驅動單元，其對構成上述四極質量過濾器的各電極
施加將直流電壓與高頻電壓相加得到的電壓；以及
b)控制單元，在以使通過上述四極質量過濾器的離子的質
量依次改變的方式進行質量掃描時，上述控制單元控制上述四
極驅動單元使得上述直流電壓以及上述高頻電壓的振幅與質量
相應地依次改變，同時使該直流電壓的偏移也與質量相應地改
變。
8.根據權利要求7所述的四極型質量分析裝置，其特征在
于，
對于相對大的質量，上述控制單元使直流電壓的偏移相對
減小。
9.根據權利要求5～8中的任一項所述的四極型質量分析裝
置，其特征在于，
使加速電壓與質量掃描時離子質量的變化相應地改變，該
加速電壓決定被導入到上述四極質量過濾器的離子的動能。
10.根據權利要求9所述的四極型質量分析裝置，其特征在
于，
在上述離子源與上述四極質量過濾器之間具備用于輸送離
子的離子輸送光學系統，上述加速電壓是上述離子輸送光學系
統與上述四極質量過濾器之間的直流電位差。