本發(fā)明揭露一種探針?biāo)糜诰瑴y試，包含：一圓形本體，配置有LCD測試區(qū)以及I/O測試區(qū)，且圓形本體具有一本體上座及一本體下座；多數(shù)群探針孔，配置在LCD測試區(qū)及I/O測試區(qū)，同時垂直貫穿本體上座及本體下座；以及多數(shù)群測試探針，配置在等探針孔內(nèi)，以傳遞通過圓形本體的測試信號；多數(shù)群接地孔配置在I/O測試區(qū)；多數(shù)群接地針，以緊配方式嵌入于本體上座及本體下座其中之一的多數(shù)群接地孔，并電性導(dǎo)通至圓形本體，以將鄰近的測試探針的噪聲及漏電流接地；多數(shù)群間隔環(huán)，以絕緣材料制成，配置于探針孔的端部，以固定測試探針于圓形本體上，且提供測試探針及圓形本體的電性絕緣。

1.一種探針?biāo)糜诰瑴y試，包含：一圓形本體，配置有LCD測試區(qū)以及I/O測試區(qū)，且該圓形本體具有一本體上座及一本體下座；多數(shù)群探針孔，配置在該LCD測試區(qū)及I/O測試區(qū)，同時垂直貫穿該本體上座及本體下座；以及多數(shù)群測試探針，配置在該等探針孔內(nèi)，用以傳遞通過該圓形本體的測試信號；其特征在于，多數(shù)群接地孔，配置在該I/O測試區(qū)；多數(shù)群接地針，以緊配方式嵌入于該本體上座及本體下座其中之一的多數(shù)群接地孔，并電性導(dǎo)通至該圓形本體，用以將鄰近的測試探針的噪聲及漏電流接地；多數(shù)群間隔環(huán)，以絕緣材料制成，配置于該等探針孔的端部，用以固定該等測試探針于該探針孔內(nèi)，且提供該等測試探針及該圓形本體的電性絕緣。2.依據(jù)權(quán)利要求1所述的探針?biāo)涮卣髟谟冢渲性摫倔w上座與該本體下座電性導(dǎo)通及同時嵌入有該等接地針，而該圓形本體為導(dǎo)電材質(zhì)。3.依據(jù)權(quán)利要求1所述的探針?biāo)涮卣髟谟冢渲性揕CD測試區(qū)與該I/O測試區(qū)分布在該圓形本體的四個象限區(qū)，而該LCD測試區(qū)相對該I/O測試區(qū)的分布面積比例為3∶1以及該I/O測試區(qū)的該測試探針及該接地針以互相交錯方式排列。4.依據(jù)權(quán)利要求1所述的探針?biāo)涮卣髟谟冢渲性摻拥乜诪樵摫倔w上座的盲孔以及該本體下座的盲孔。5.依據(jù)權(quán)利要求1所述的探針?biāo)涮卣髟谟冢渲忻恳蝗航拥蒯樀臄?shù)量小于其鄰近測試探針的數(shù)量。6.依據(jù)權(quán)利要求1所述的探針?biāo)涮卣髟谟冢渲性摻拥蒯樀娜簲?shù)小于該I/O測試區(qū)的測試探針的群數(shù)，而該多數(shù)群接地針的長度短于該本體上座或本體下座的厚度。7.依據(jù)權(quán)利要求1所述的探針?biāo)涮卣髟谟冢渲性搱A形本體還進一步包含一對蓋板裝置，分別配置在該本體上座上方及該本體下座的下方，用以擋卡對應(yīng)的該間隔環(huán)。8.依據(jù)權(quán)利要求1所述的探針?biāo)涮卣髟谟冢渲性摐y試探針的外徑經(jīng)由測試探針的阻抗計算而得到。9.一種具有探針?biāo)木瑴y試承座，至少具有一運動平臺、一探針?biāo)c一針測卡，該運動平臺提供X-Y-Z三軸的移動用以承載一待測晶片，其中該探針?biāo)阂粓A形本體，配置有LCD測試區(qū)以及I/O測試區(qū)，且該圓形本體具有一本體上座及一本體下座；多數(shù)群探針孔，配置在該LCD測試區(qū)及I/O測試區(qū)，同時垂直貫穿該本體上座及本體下座；以及多數(shù)群測試探針，配置在該探針孔內(nèi)，用以傳遞通過該圓形本體的測試信號；其特征在于，多數(shù)群接地孔，配置在該I/O測試區(qū)；多數(shù)群接地針，以緊配方式嵌入于該本體上座及本體下座其中之一的多數(shù)群接地孔，并電性導(dǎo)通至該圓形本體，用以將鄰近的測試探針的噪聲及漏電流接地；多數(shù)群間隔環(huán)，以絕緣材料制成，配置于該探針孔的端部，用以固定該測試探針于該探針孔內(nèi)，且提供該測試探針及該圓形本體的電性絕緣。10.一種晶片測試系統(tǒng)，包含：一晶片測試承座，至少具有一運動平臺、一探針?biāo)c一針測卡，該運動平臺是提供X-Y-Z三軸的移動用以承載一待測晶片，其中該探針?biāo)阂粓A形本體，配置有LCD測試區(qū)以及I/O測試區(qū)，且該圓形本體具有一本體上座及一本體下座；多數(shù)群探針孔，配置在該LCD測試區(qū)及I/O測試區(qū)，同時垂直貫穿該本體上座及本體下座；以及多數(shù)群測試探針，配置在該探針孔內(nèi)，用以傳遞通過該圓形本體的測試信號；其特征在于，多數(shù)群接地孔，配置在該I/O測試區(qū)；多數(shù)群接地針，以緊配方式嵌入于該本體上座及本體下座其中之一的多數(shù)群接地孔，并電性導(dǎo)通至該圓形本體，用以將鄰近的測試探針的噪聲及漏電流接地；多數(shù)群間隔環(huán)，以絕緣材料制成，配置于該探針孔的端部，用以固定該測試探針于該探針孔內(nèi)，且提供該測試探針及該圓形本體的電性絕緣；一測試頭，用以對應(yīng)連接至該探針?biāo)灰豢刂婆c運算裝置，接收該測試頭的測試信號，加以運算統(tǒng)計成晶片的測試結(jié)果；以及一顯示裝置，將晶片測試結(jié)果輸出。