1.一種用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，包括用于固定探針(01)的夾持機構以及用于實現所述探針(01)繃緊拉直的升降機構；所述夾持機構包括兩個上下相對的夾持組件(7)，通過所述升降機構實現兩個夾持組件在豎直方向上的距離可調，所述夾持組件(7)包括緊固件(72)和導套(73)，兩個緊固件(72)的相對端設置成錐形結構且內部中空用于插入探針(01)的端頭部分，所述緊固件(72)的相對端沿周向分為多個形狀、大小相等的扇形壓片，所述導套(73)套設在緊固件(72)的相對端上且所述導套(73)的內部腔體設置成與緊固件(72)匹配的錐形結構，通過導套對緊固件的壓片產生徑向擠壓，迫使所有壓片同時向中間靠攏，從而實現對中間插入探針的夾緊固定。2.根據權利要求1所述用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，所述升降機構包括從上至下依次設置的頂板(1)、升降臺(2)和底座(3)以及豎直設置在所述底座(3)上的支撐導軌(4)和升降桿(5)，所述支撐連導軌(4)的下端與所述底座(3)固連而上端穿過所述升降臺(2)并與所述頂板(1)固連，所述升降桿(5)的下端與所述底座(3)之間為可轉動連接或間隙配合而上端穿過所述升降臺(2)和頂板(1)，且所述升降桿(5)和升降臺(2)通過螺紋配合聯動設置，通過旋轉升降桿使力沿螺紋傳遞給升降臺從而帶動所述升降臺沿支撐導軌上下運動；兩個夾持組件分別設置在所述升降臺(2)和底座(3)上。3.根據權利要求2所述用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，還包括備用通孔(8)，所述備用通孔對稱設置在所述升降臺(2)和底座(3)上且用于實現對探針(01)兩端的長久夾持定位。4.根據權利要求3所述用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，所述備用通孔(8)的數量為多組且具有不同直徑，各組備用通孔的中軸線與所述緊固件(72)的中軸線位于同一豎直面上。5.根據權利要求3所述用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，還包括一組用于實現任意直徑探針的(01)夾持定位的V型槽(9)，所述V型槽(9)對稱設置在所述升降臺(2)和底座(3)上，且所述V型槽(9)的中軸線與備用通孔(8)的中軸線、緊固件(72)的中軸線位于同一豎直面上。6.根據權利要求5所述用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，所述夾持組件(7)還包括基座(71)，所述基座(71)通過固定螺栓(75)固定設置在所述升降臺(2)和底座(3)上，在所述基座(71)上設有用于實現所述緊固件(72)插入固定的卡槽，所述緊固件(72)與該卡槽之間為間隙配合。7.根據權利要求6所述用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，所述夾持組件(7)還包括用于防止所述基座(71)發生周向旋轉的緊定螺栓(74)，所述緊定螺栓(74)水平設置在所述升降臺(2)和底座(3)上且從側面對基座進行緊壓固定。8.根據權利要求7所述用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，兩個緊定螺栓(74)位于所述基座(71)的同一側。9.根據權利要求2～8中任意一項所述用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，在所述升降桿(5)的上端設有便于施力的把手(6)。10.根據權利要求9所述用于中子衍射測量中樣品定位的通用型探針夾持裝置，其特征在于，在所述導套(73)的內側壁以及所述緊固件(72)或基座(71)的外側壁上設有匹配的螺紋，通過旋轉導套使其向緊固件靠近或遠離從而實現對壓片的放松和壓迫。
展開
