本發明提供一種雙極型晶體管電流放大系數測量方法，在探針卡上的探針中選取用于測試的測試探針；將所述測試探針與測試機連接，通過導線將所述探針卡上每個相同測試探針所對應的探針連接點和測試機連接點連接，所述導線直線連接所述探針連接點和所述測試機連接點，無交錯纏繞；將所述測試探針接觸所述雙極型晶體管的發射極和集電極；通過所述測試機和探針卡向所述雙極型晶體管的發射極E和集電極C施加電壓，所述測試機實時測得在施加于發射極E的各個電壓值下的發射極電流I、集電極電流I和基極電流I，通過得到的集電極電流I和基極電流I得到電流放大系數β。本發明方法可準確測量到電流放大系數較大的雙極型晶體管的電流放大系數值。

1.一種雙極型晶體管電流放大系數測量方法，包括以下步驟：
在探針卡上的探針中選取用于測試的測試探針；
將所述測試探針與測試機連接，通過導線將所述探針卡上每個相同測試探
針所對應的探針連接點和測試機連接點連接，所述導線直線連接所述探針連接
點和所述測試機連接點，無交錯纏繞；
將所述測試探針接觸所述雙極型晶體管的發射極E和集電極C；
通過所述測試機向所述探針卡上的所述測試探針施加電壓，所述測試探針
進而向所述雙極型晶體管的發射極E和集電極C分別施加電流和電壓，施加于
集電極C的電壓為固定值，而施加于發射極E的電流則隨時間逐漸增加，與此
同時所述測試機實時測得在施加于發射極E的各個電流值下的集電極電流I_C和
基極電流I_B，通過得到的集電極電流I_C和基極電流I_B得到電流放大系數β。
2.如權利要求1所述的雙極型晶體管電流放大系數測量方法，其特征在于，
所述探針卡的基板采用陶瓷基板。