一種檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，該檢測系統(tǒng)具有一檢測機、一傳導線組、一校正模塊以及一探針模塊；該方法包含有下列步驟：先電性連接該檢測機與該傳導線組，并電性連接該傳導線組與該校正模塊，該檢測機輸出電信號至該校正模塊，以進行短路量測、斷路量測以及阻抗量測的其中之一，并依據(jù)量測所得的數(shù)值進行對應的補償以校正該檢測系統(tǒng)；而后，電性分離該傳導線組與該校正模塊，并電性連接該傳導線組與該探針模塊，且將該探針模塊與一待測物接抵后，該檢測機輸出電信號至該探針模塊，以對該待測物進行電性檢測。

1.一種檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，該檢測系統(tǒng)具有一檢測機、一傳導線組、一校正模
塊以及一探針模塊；該校正與運作方法包含有下列步驟：
A.電性連接該檢測機與該傳導線組；
B.電性連接該傳導線組與該校正模塊；
C.該檢測機輸出電信號至該校正模塊，以進行短路量測、斷路量測以及阻抗量測的其
中之一，并依據(jù)量測所得的數(shù)值進行對應的補償以校正該檢測系統(tǒng)；
D.電性分離該傳導線組與該校正模塊；
E.電性連接該傳導線組與該探針模塊；
F.將該探針模塊與一待測物接抵，且該檢測機輸出電信號至該探針模塊，以對該待測
物進行電性檢測。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，其中于步驟E之后，將該探針模塊
接抵于一校正片上，且該檢測機輸出電信號至該探針模塊以進行短路量測、斷路量測以及
阻抗量測的其中之一，并依據(jù)量測所得的數(shù)值進行對應的補償以校正該檢測系統(tǒng)。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，其中于步驟F之前，將該探針模塊
接抵于該校正片上。
4.如權(quán)利要求2所述的檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，其中于步驟F之后，將該探針模塊
接抵于該校正片上。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，其中，該傳導線組一端具有一第一
接頭，而該探針模塊上具有一對應的第二接頭；于步驟E中，連接該第一接頭與該第二接頭，
使該傳導線組與該探針模塊電性連接。
6.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，其中該傳導線組一端具有一第一
接頭，而該校正模塊上具有至少一對應的第二接頭；于步驟B中，連接該第一接頭與該第二
接頭，使該傳導線組與該校正模塊電性連接；且于步驟D中，分離該第一接頭與該第二接頭，
使該傳導線組與該校正模塊電性分離。
7.如權(quán)利要求6所述的檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，其中該校正模塊上的第二接頭的
數(shù)量為三個以上，且所述第二接頭分別與短路量測、斷路量測以及阻抗量測所對應的元件
電性連接；于步驟B中，連接該第一接頭與至少其中一該第二接頭，以于步驟C中，進行短路
量測、斷路量測以及阻抗量測的至少其中之一。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，其中步驟D執(zhí)行后，重復執(zhí)行預定
次數(shù)的步驟B至步驟D，再執(zhí)行步驟E。
9.如權(quán)利要求8所述的檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，其中再次執(zhí)行步驟B時，該第一接
頭連接的第二接頭不同于前一次所連接的第二接頭，以使步驟C所執(zhí)行的校正量測不同于
前一次所執(zhí)行的校正量測。
10.如權(quán)利要求1所述的檢測系統(tǒng)的校正與運作方法，其中步驟F執(zhí)行后，還包含有一步
驟，電性分離該傳導線組與該探針模塊后，并重新執(zhí)行步驟B至D。