本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元，解決了現(xiàn)有技術的問題，技術方案為：包括通信接口模塊、探針坐標獲取模塊和Map顯示模塊，所述通信接口模塊與波形測試系統(tǒng)連接，所述探針坐標獲取模塊與通信接口模塊連接，所述Map顯示模塊與所述探針坐標獲取模塊連接，所述Map顯示模塊包括圖形顯示模塊、Bin值數(shù)量顯示模塊、顏色設置模塊、參數(shù)設置模塊和文件播出模塊。

1.一種測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元，適用于波形測試系統(tǒng)，其特征在于：包括通信接
口模塊、探針坐標獲取模塊和Map顯示模塊，所述通信接口模塊與波形測試系統(tǒng)連接，所述
探針坐標獲取模塊與通信接口模塊連接，所述Map顯示模塊與所述探針坐標獲取模塊連接，
所述Map顯示模塊包括圖形顯示模塊、Bin值數(shù)量顯示模塊、顏色設置模塊、參數(shù)設置模塊和
文件保存模塊，圖形顯示模塊、Bin值數(shù)量顯示模塊、顏色設置模塊、參數(shù)設置模塊和文件保
存模塊均與所述的探針坐標獲取模塊連接，所述波形測試系統(tǒng)包括電路參數(shù)采集模塊和電
路參數(shù)顯示模塊，電路參數(shù)采集模塊包括電路測試單元、模數(shù)轉換單元和主控芯片單元，電
路參數(shù)顯示模塊包括通信單元和運算單元，電路測試單元和模數(shù)轉換單元相連接，模數(shù)轉
換單元與主控芯片單元相連接，主控芯片單元與通信單元通信連接，通信單元與運算單元
相連接，運算單元與測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元相連接；
測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元為執(zhí)行以下步驟的測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元：
步驟1，電路測試單元測量并采集集成芯片參數(shù)，集成芯片參數(shù)為時序數(shù)據(jù)；具體為電
路測試單元以設定值為步距采集至少50個點，則集成芯片參數(shù)為0到步距與至少50個點的
乘積的時間內(nèi)的電路參數(shù)時序數(shù)據(jù)；
步驟2，模數(shù)轉換單元將采集的集成芯片參數(shù)進行模數(shù)轉換；
步驟3，主控芯片單元將模數(shù)轉換后的集成芯片參數(shù)進行存儲并傳遞給電路參數(shù)顯示
模塊的通信單元；
步驟4，通信單元將采集的集成芯片參數(shù)發(fā)送至運算單元，運算單元對集成芯片參數(shù)進
行運算加工；
步驟5，測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元接收運算單元運算加工后的集成芯片參數(shù)并顯
示。
2.根據(jù)權利要求1所述的測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元，其特征在于：所述波形測試系
統(tǒng)為探針臺波形測試系統(tǒng)。
3.根據(jù)權利要求2所述的測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元，其特征在于：通信接口模塊為
定義與探針臺波形測試系統(tǒng)的通信協(xié)議，獲取探針臺波形測試系統(tǒng)的開始測試標志及測試
工位信息及坐標信息的模塊；
map顯示模塊為定義一個類來實現(xiàn)map顯示的各種操作的模塊；圖形顯示模塊為定義一
個結構體保存map相關信息的模塊，Bin值數(shù)量顯示模塊為采用靜態(tài)控件進行bin數(shù)量顯示，
定義數(shù)組SBin[]進行測試結果bin存儲的模塊；參數(shù)設置模塊為通過編輯框輸入進行map
直徑、角度、針卡測試順序和芯片大小進行設置的模塊；文件保存模塊為保存map圖片的文
本格式、保存BMP格式圖片保存坐標和bin信息的模塊。
4.一種測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示方法，適用于如權利要求1所述的測試系統(tǒng)的坐標圖
形顯示單元，其特征在于：
步驟1，電路測試單元測量并采集集成芯片參數(shù)，集成芯片參數(shù)為時序數(shù)據(jù)；具體為電
路測試單元以設定值為步距采集至少50個點，則集成芯片參數(shù)為0到步距與至少50個點的
乘積的時間內(nèi)的電路參數(shù)時序數(shù)據(jù)；
步驟2，模數(shù)轉換單元將采集的集成芯片參數(shù)進行模數(shù)轉換；
步驟3，主控芯片單元將模數(shù)轉換后的集成芯片參數(shù)進行存儲并傳遞給電路參數(shù)顯示
模塊的通信單元；
步驟4，通信單元將采集的集成芯片參數(shù)發(fā)送至運算單元，運算單元對集成芯片參數(shù)進
行運算加工；
步驟5，測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元接收運算單元運算加工后的集成芯片參數(shù)并顯
示。
5.根據(jù)權利要求4所述的測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示方法，其特征在于：所述的設定值的
范圍為5us至20us，采集的數(shù)量為至少500個點。
6.根據(jù)權利要求5所述的測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示方法，其特征在于：所述的步驟4具
體為通信單元將采集的集成芯片參數(shù)發(fā)送至運算單元，運算單元計算出電路參數(shù)時序數(shù)據(jù)
的最大值、最小值、超調(diào)量和穩(wěn)定時間，并進行圖形運算繪制波形圖。
7.根據(jù)權利要求6所述的測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示方法，其特征在于：還包括步驟6，測
試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元還顯示集成芯片參數(shù)的理論波形圖，并將理論波形圖的每個點
的數(shù)值的±5-10%作為誤差，測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元顯示理論波形圖誤差范圍，再將
實際的波形圖和理論波形圖做比較，若實際的波形圖在誤差范圍內(nèi)，則表示集成芯片合格，
若實際的波形圖超出誤差范圍，則表示集成芯片不合格。
8.根據(jù)權利要求7所述的測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示方法，其特征在于：還包括步驟7，測
試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元顯示一條與X軸平行的且以理論波形圖最大值上浮5%為數(shù)值的
直線，若實際的波形圖最大值未超過直線，則表示集成芯片合格，若實際的波形圖最大值超
過直線，則表示集成芯片不合格。
9.根據(jù)權利要求8所述的測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示方法，其特征在于：還包括步驟8，測
試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元顯示一條與Y軸平行的且以理論波形圖穩(wěn)定時間值延遲若干時
間為數(shù)值的第一直線，測試系統(tǒng)的坐標圖形顯示單元還顯示一條與Y軸平行的且以理論波
形圖穩(wěn)定時間值提早若干時間為數(shù)值的第二直線，若實際的波形圖穩(wěn)定時間值在第一直線
和第二直線之間，則表示集成芯片合格，若實際的波形圖穩(wěn)定時間值不在第一直線和第二
直線之間，則表示集成芯片不合格。