本發明涉及微波技術領域，具體涉及一種微波探測系統。一種微波探測系統，包括控制系統、同軸諧振腔和距離調整裝置，同軸諧振腔包括腔體和伸出腔體的探針，探針在同軸諧振腔腔體外形成電磁場,同軸諧振腔對在電磁場內樣品進行探測并產生微波輸出信號；控制系統能提供同軸諧振腔的微波輸入信號并接收以及分析同軸諧振腔的微波輸出信號，距離調整裝置用于控制待測樣品移動至電磁場內，待測樣品對該電磁場形成干擾從而改變同軸諧振腔的微波輸出信號；控制系統通過對放置待測樣品前后的同軸諧振腔的微波輸出信號進行分析完成待測樣品的探測。通過設置距離調整裝置能保證待測樣品對電磁場形成有效干擾，提高該微波探測系統的探測準確度。

1.一種微波探測系統，其特征在于：包括控制系統、同軸諧振腔和距離調整裝置，所述同軸諧振腔包括耦合機構、腔體和伸出腔體的探針，所述耦合機構容置于腔體內，用于向腔體內輸入微波形成腔體的激蕩，以及對腔體內微波信號進行耦合并輸出，所述探針在所述同軸諧振腔腔體外形成電磁場，同軸諧振腔對在電磁場內樣品進行探測并產生微波輸出信號，所述控制系統連接并控制距離調整裝置；所述控制系統能提供同軸諧振腔的微波輸入信號并接收以及分析同軸諧振腔的微波輸出信號，所述距離調整裝置用于控制待測樣品移動至所述電磁場內，待測樣品對該電磁場形成干擾從而改變所述同軸諧振腔的微波輸出信號，其中，所述距離調整裝置包括距離檢測器，所述距離檢測器用于測量所述探針與待測樣品之間的距離，所述距離檢測器包括音叉測距模塊和激光三角測距模塊，在所述激光三角測距模塊測量所述探針與待測樣品表面之間的距離之后，再利用所述音叉測距模塊進行測量，所述音叉測距模塊包括與所述探針固定連接的音叉，通過檢測音叉的諧振頻率和振幅的變化來實現對原子剪切力的實時反饋，以進行探針與待測樣品表面距離參數的測量；所述控制系統通過對放置待測樣品前后的同軸諧振腔的微波輸出信號進行分析完成待測樣品的探測；所述腔體呈圓環柱體，該圓環柱體的外圓半徑與內圓半徑之比為(3-5)：1；所述腔體內靠近所述探針的一端填充介質層，所述介質層的形狀與腔體相匹配，其介電常數大于1，所述介質層的高度與腔體的圓環柱體內圓半徑之比為(1.5-2.5):1。2.如權利要求1所述微波探測系統，其特征在于：所述距離調整裝置還包括距離調節器；所述距離調節器用于根據距離檢測器測量的結果調節所述探針與待測樣品之間的距離。3.如權利要求2所述微波探測系統，其特征在于：所述音叉測距模塊進一步包括與所述音叉相連的音叉激諧振掃描模塊、鎖相環模塊和音叉數據采集模塊；所述音叉激諧振掃描模塊用于對所述音叉進行掃頻以確定所述音叉的諧振頻率；所述鎖相環模塊用于對所述諧振頻率進行鎖定；所述音叉數據采集模塊用于收集所述音叉的檢測數據。4.如權利要求2所述微波探測系統，其特征在于：所述激光三角測距模塊包括一激光發生器、一激光檢測器及一激光數據采集及處理模塊；所述激光數據采集及處理模塊分別與所述激光發生器、所述激光檢測器連接；所述激光發生器與所述激光檢測器分別位于所述探針的兩側。5.如權利要求2所述微波探測系統，其特征在于：所述微波探測系統還包括用于放置樣品的樣品放置臺；所述距離調節器包括調節組件，所述調節組件通過調節所述樣品放置臺和所述同軸諧振腔的位置，從而調節所述探針和待測樣品之間的距離。6.如權利要求1-5中任一項所述微波探測系統，其特征在于：所述同軸諧振腔可更換，所述同軸諧振腔為λ/2同軸諧振腔或λ/4同軸諧振腔。7.如權利要求6所述微波探測系統，其特征在于：所述腔體的高度大于圓環柱體外圓半徑與圓環柱體內圓半徑之和。