本發明公開了一種對RRAM器件的脈沖參數進行測試的電路，包括半導體參數分析儀、脈沖源、探針平臺和雙通道示波器，半導體參數分析儀作為控制平臺，同時連接于探針臺和脈沖源，并通過配置脈沖源參數控制脈沖源的波形；示波器是當脈沖源向待測RRAM器件發出脈沖時，捕獲脈沖圖形；示波器具有第一通道和第二通道，第一通道具有第一內阻R1，第二通道具有第二內阻R2，待測RRAM器件與示波器第二通道的第二內阻R2串聯，脈沖源與待測RRAM器件連接，示波器的第一通道并聯連接于待測RRAM器件與第二內阻R2的串聯支路。利用本發明，解決了RRAM器件在脈沖測試過程中不能限流的問題，使RRAM器件在脈沖測試時得到穩定的脈沖測試電壓，而不會因編程或擦除后影響整個電路的穩定。

1.一種對RRAM器件的脈沖參數進行測試的電路，其特征在于，該電路包括半導體參數
分析儀、脈沖源、探針平臺和雙通道示波器，其中：
半導體參數分析儀作為控制平臺，同時連接于探針臺和脈沖源，并通過配置脈沖源參
數控制脈沖源的波形；
示波器是當脈沖源向待測RRAM器件發出脈沖時，捕獲脈沖圖形；示波器具有第一通道
和第二通道，第一通道具有第一內阻R1，第二通道具有第二內阻R2，待測RRAM器件與示波器
第一通道的第一內阻R1串聯，脈沖源與待測RRAM器件連接，示波器的第二通道并聯連接于
待測RRAM器件與第一內阻R1的串聯支路；
其中，所述示波器的第一通道，選擇該通道內阻為50Ω，由于待測RRAM器件電阻遠遠大
于50Ω，所以串聯后的電阻只考慮待測RRAM器件的電阻；或者，所述示波器的第二通道，選
擇該通道內阻為50Ω，由于待測RRAM器件電阻遠遠大于50Ω，所以并聯后的電阻為50Ω；
由于脈沖源內阻R為50Ω，用戶需要為脈沖源匹配一個阻值，該匹配阻值為定值；匹配
阻值設定好之后，脈沖源內阻R需要分得一部分電壓；脈沖源經過內部計算，得出脈沖源實
際發出的脈沖幅度。
2.根據權利要求1所述的對RRAM器件的脈沖參數進行測試的電路，其特征在于，待測
RRAM器件并聯示波器的內阻50Ω后，能夠將脈沖源外的阻值設置為50Ω，這樣能夠使待測
RRAM器件在脈沖測試時，得到穩定的脈沖測試電壓，不會因編程或擦除后，RRAM阻態改變而
影響整個電路的穩定。